2-氟-8-溴-5,11-二甲基二苯并[1,5][b,f ] 二氮杂辛变温核磁共振的研究

本工作通过变温实验获取化合物(分子式为C_(16)H_(16)N_(2) FBr)理想的1D,2D核磁共振谱图,在此基础上顺利地完成该化合物的结构确定。随后,又利用HMR的实验结果求算出该化合物的转环速率及其能垒,为该化合物合成线路的设计合理性和进一步研究提供依据。     

为集成电路进行微微秒级时间间隔测量

高速逻辑系列器件的出现，提出了微微秒数量级时间间隔的数量问题。要进行这种测量，有精度高达数十微微秒、重复性为１微微秒的测量系统。本文简要介绍了能进行这种测量的优选系统和应予重视的各种影响因素。     

MPEG- 4码率控制及其改进策略

在对现有MPEG- 4的码率控制算法分析研究的基础上,应用一些改进策略,包括基于权重的P帧目标比特分配法和联合缓存器控制算法,使码率控制算法具有更高的效率,在低码率下可以提供更好的图像质量,降低传输延迟,明显减少帧跳跃的数量,提高峰值信噪比.     

佩戴防尘口罩对吸入气溶胶粒度影响的实验研究

本文介绍了应用级联撞击器和佩戴口罩的人头模型在天然铀燃料元件加工现场测定吸入气溶胶粒度的方法。结果表明,佩戴口罩使得吸入气溶胶的活度中值空气动力学直径(AMAD)变小,并且吸入气溶胶的 AMAD 值与场所气溶胶的 AMAD 值有一定关系,粒径分布类型也发生改变。文中还报告了口罩的漏过率有随微尘粒径减小而增大的趋势。实验结果对内照射剂量估算以及评价口罩的防尘能力有一定的参考价值。     

功率受限的无线网络的传输速率控制

无线自组织网络是没有预置基础设施支撑的自组织可重构的自治网络.由于需要克服远近效应问题、干扰问题以及提高信道的空间复用度,并且为了降低网络节点的能耗,提高网络的生存时间和系统的能量效率,网络节点的发射功率受到限制.因此,如何在功率受限的情况下保证网络数据传榆性能,成为无线网络的关键问题.提出了功率受限的无线自组织网络模型,该模型用发送功率的凸函数作为度量效用的指标之一,更加贴切地反映了网络节点功率受限的特点.采用对偶分解的方法求解模型,得到分布式算法,协调节点的传输功率和数据速率,达到全网效用最大化.最后用具体的拓扑和效用函数进行仿真,验证了算法的收敛性,并考察传输速率和功率的关系对网络性能的影响.     

ABR业务流量控制中的显速率反馈

ABR(Available Bit Rate)业务可以提高ATM网络的利用率,能让用户LAN通过广域网进行高吞吐量、低丢失率的互通。可以预计,未来ATM网上的数据业务将主要用ABR连接来传输。ABR业务中的首要问题是流量控制。文章在比较了几种流量控制方案后,认为显速率反馈是ABR业务流量及拥塞控制的一个有效方法,是完善ABR业务的一个重要手段,并对显速率算法作了进一步研究。     

一种在多径信道下LDPC码的解码设计

本文首先简单介绍了基带编码调制的LDPC系统与信道模型,接着设计了一种适合应用在多径信道下的自适应均衡器;然后,对LDPC码以及编译码模块进行了构造;最后,本文对所提出的由自适应均衡滤波器和LDPC解码器组成的自适应LDPC译码系统的误比特率（BER）性能进行了仿真,仿真结果表明新的译码系统可以解决在多径信道下BER性能较差的问题。     

碳/碳复合材料在再入弹头上的应用研究

为了研究碳/碳 (C/C) 复合材料在再入弹头上的应用性能, 以某型弹头的设计战标为研究背景, 根据朗金—雨贡纽 (Rankine-Hugoniot) 关系式和再入飞行的相似性原理, 对C/C复合材料进行地面再入模拟烧蚀试验;测量C/C复合材料的烧蚀性能, 并观察其微观形貌的变化;根据试验结果, 对C/C复合材料在再入飞行时的烧蚀机理进行分析;进而对再入弹头防热层的质量进行理论估算。结果表明, C/C复合材料在再入飞行时的烧蚀是由热氧化反应和机械剥蚀共同作用的结果, 驻点区的线烧蚀率约为0.0615 mm/s;圆锥体区的线烧蚀率约为0.0402 mm/s;由试验结果获得了C/C复合材料在再入环境中的烧蚀规律曲线;根据试验结果计算再入弹头防热层的理论质量, 并与在役弹头防热层的质量相比较, 节省了约8.6 kg。     

多基地雷达中双门限CFAR检测算法

针对多基地雷达系统,该文为解决传统集中式检测算法数据传输率大的问题,根据广义似然比检测算法和自适应匹配滤波算法,提出两种双门限恒虚警率检测器：双门限广义似然比检测器和双门限自适应匹配滤波检测器。首先各个局部雷达站将超过第1门限的局部检验统计量传送到融合中心。然后融合中心根据局部雷达站传送的数据计算融合后的全局检验统计量,并与第2门限比较,得到最终的判决结果。在各空间分集通道的信杂噪比假设相同的条件下,给出了双门限自适应匹配滤波检测器的虚警概率和检测概率的解析表达式。仿真结果表明,两种双门限检测器在低数据率传输时能够保持较好的检测性能。     

考虑偏置温度不稳定性的软差错率分析

纳米工艺下,老化效应与软差错共同引发的集成电路可靠性问题至关重要。该文分析偏置温度不稳定性(BTI),包括负偏置温度不稳定性(NBTI)和正偏置温度不稳定性(PBTI)对软差错率的影响,提出从关键电荷值和延迟两个因素综合考虑。首先分析BTI效应下两个因素如何变化,推导了延迟受BTI影响的变化模型,介绍关键电荷的变化机理。然后探讨将两个因素结合到软差错率(SER)评估中,推导了融入关键电荷值的SER计算模型,提出将延迟的变化导入到电气屏蔽中的方法。基于ISCAS89基准电路上的实验验证了综合两种因素考虑BTI效应评估SER的有效性和准确性。